MonoVista CRS3+ 根據用戶的應用需求拓展不同的配置，

提供多種材料光學表征方法:

• 保證系統自動控製與高可靠性情況運行
  
• 高靈敏顯微拉曼光譜，超低波數拉曼（有效消除空氣雜峰），偏振拉曼
  
• 熒光光譜, TCSPC, 熒光壽命成像
  
• 集成 SHG/THG 測試
  
• 變溫紅外光譜 / 時間分辨光譜 / 暗場光譜 / 異位選區光譜
  
• 耦合外延光路 - 大樣品系統，低溫，強磁，高溫等複雜測試環境
  

I.   科研級拉曼光譜與成像

II.  低波數高靈敏拉曼光譜功能（≤10cm-1）

III. 偏振拉曼光譜的功能

IV. 熒光壽命測試 (TCSPC成像)

V.  二次諧波 (Second Harmonic Generation, SHG/THG)

Monovista CRS3+系統具有***光譜分辨率達0.7cm-1；提供 488，532, 633, 785nm 等

激光波長低波數拉曼光譜測試能力（≧+/-10cm-1）

DAC 拉曼樣品測試在 WSe2 @532nm, 激光 @2400 g/mm，光柵@中心波數 206cm-1 @ 60s 曝光時間

系統優化以後對比：

                                             特別是在測試低波數區，對於弱信號樣品，空氣拉曼峰對信號幹擾很嚴重，需要去掉。

                                                                                      TCSPC測試基本原理結構

                                                      SHG 拉曼 - 熒光分析

                                     Raman PL and SHG response to strain in monolayer MoSe2.

                             (Nano Lett. 2017, 17, 7539−7543, Peking University, Prof. Liu Kaihui)