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測試座Socket

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支持高引腳數和高速信號應用；
盡可能為每種封裝類型配置浮動底座；
探針間距從 0.30 - 1.00 mm 不等；
方便於測試機台連接和使用；
測試座框架由鋁和高性能工程塑料製作

 為多種IC提供測試方案、提供各類夾具定製。







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