CT系列非真空高低溫探針台
***可用於 12 英寸以內樣品測試，采用密閉腔結構，屏蔽外部電信幹擾同時保持氮氣正壓環境下樣品在低溫時無結霜。
特性：
- ***可用於 12 英寸以內樣品測試；
- 采用密閉腔結構，屏蔽外部電信幹擾同時保持氮氣正壓環境下樣品在低溫時無結霜；
- 優化的腔體保溫結構可以極大的減少液氮消耗量；
- 可升降調節適合加裝探針卡；
- 可搭配多種類型顯微鏡；
- 結構模塊化設計，可無縫升級；
- 探針台可根據客戶要求定製。
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詢盤
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