CDM測試設備
HED-C5000R CDM測試設備
ESD(靜電放電)測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對於半導體設計的開發和半導體製造的***終生產過程中的質量保證都是必不可少的。
內置自動濕度控製和N2封閉室;
完全通用的尺寸/配置 QUT;
全自動CDM波形捕捉系統，
並具有波形保存功能。
特點:
適用標準:JEDEC、ESDA、AEC、JEITA
包括JS-002和AEC-QI00-011(FI-CDM、 D-CDM);
包括地平面、充電板和驗證模塊;
電容測量(選項):測量器件每個引腳的容量;
數據可以保存在文本文件中
寬幅運動測試區(BOmmx200mm);
測試電壓範圍:0-+/-4000V(+/-5V步);
實時波形捕捉功能;
可以定位在任何X、Y位置。
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詢盤
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