能譜儀 / EDS探測器
Quantax能譜儀 + XFlash®7
采用先進的slim-line技術的SEM和TEM， 大面積SSD納米微區分析
• 高達 1,000,000 cps的實際分析通量 - 實現無與倫比的分析速度；
• >1.1sr X 射線采集的***立體角 - 通過優化幾何形 狀***化樣品的通量，以***有效地采集生成的 X 射 線；
• >2,200 行元素 - 使用******的原子數據庫量化***複 雜的數據，包括： K、L、M 和 N 線； • XFlash®7為掃描電子顯微鏡(SEM)、聚焦離子束 （FIB-SEM）和電子探針顯微分析儀 (EPMA) 的能量 色散光譜法設定 性能和功能標準；
• XFlash®7檢測器系列還提供用於 在 TEM 和 SEM 中對電子透明樣 品進行EDS 分析的優化解決方案， 及獨的 XFlash®FlatQUAD平叉式 探頭；
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