台灣 Smart-1 - IV曲線追蹤儀

集成電路失效分析流程中，IV曲線的量測往往是破壞分析的第二步（外觀檢查排在“步”），可見curve量測的重要性。傳統的曲線追蹤儀多為手動，隨著器件的引腳數越來越多，沒有辦法滿足時效的需求，台灣 Advanced 推出的 Smart-1 Auto Curve Tracer 在 BGA 等通訊產品方面滿足了客戶的需求。

失效分析用IV曲線追蹤儀則可以直接記錄待測樣品的所有數據，與原始數據比對，從而判斷元器件具體失效原因，是集成電路領域無損檢測環節不可或缺的一環。

• 已封裝或未封裝集成電路的開路/短路測試；
  
• IV特性分析；
  
• 靜態電流測量；
  
• 漏電檢測；
  
• 用於集成電路或系統電路的篩選和失效分析。
  

特性：

1. 高分辨率之IV量測範圍，可達200mV ~ 200V，（需搭配Keithly 2400），電流測量範圍可達1uA ~ 1A，且測試通道可從64-pin逐步擴充至***多4,096 pin，以滿足客戶多元化之產品測試需求機台主要測試功能，包括：
   

• 開/短路測試（Open/Short Test）；
  
• 曲線追蹤分析（IV Curve Analysis）；
  
• Idd量測（Idd Measuring）；
  
• 漏電測試（Powered Leakage Test）。
  
• 可協助客戶解決其產品在DC Fail之電性分析，並節省客戶上Functiona Tester之借機成本及時間。
  

1. 采用電腦化控製的操作系統，比傳統的Curve Tracer更易於量取IV data及產生格式化的report。
   
2. 使用Windows操作系統，易學易懂，而所建立的Device之Pin Assignment可儲存在電腦中，未來可重複被使用，比傳統的Switching Matrix更便利省時。
   
3. 機台可搭配Probe Station及Emmission Microscope做漏電分析。
   
4. 機台一機多用，本身除了可作產品的失效分析外，還可結合Auto Handler做批量的開/短路測試（Open/Short Test）。