CDM测试设备
HED-C5000R CDM测试设备
ESD(静电放电)测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量保证都是必不可少的。
内置自动湿度控制和N2封闭室;
完全通用的尺寸/配置 QUT;
全自动CDM波形捕捉系统，
并具有波形保存功能。
特点:
适用标准:JEDEC、ESDA、AEC、JEITA
包括JS-002和AEC-QI00-011(FI-CDM、 D-CDM);
包括地平面、充电板和验证模块;
电容测量(选项):测量器件每个引脚的容量;
数据可以保存在文本文件中
宽幅运动测试区(BOmmx200mm);
测试电压范围:0-+/-4000V(+/-5V步);
实时波形捕捉功能;
可以定位在任何X、Y位置。
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