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测试座Socket

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支持高引脚数和高速信号应用；
尽可能为每种封装类型配置浮动底座；
探针间距从 0.30 - 1.00 mm 不等；
方便于测试机台连接和使用；
测试座框架由铝和高性能工程塑料制作

 为多种IC提供测试方案、提供各类夹具定制。







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