液氦低温微区光电综合表征系统

Model：OPQE-ST/LT/MT

◆ 测试系统功能

光电材料与器件综合表征系统(OPQE)基于科研需求，设计用于测试半导体器件，

功能材料（如钙钛矿），发光器件等综合性能表征系统。

• 可实现低温、真空、超连续光谱、瞬态等光电性能测试条件；
  
• 可测试参数包括：输出特性、转移特性、暗电流、光电流、光电压（光伏材料）、
  
• 光响应速度、变光强测试、电容、光谱响应等。
  

◆ 配置参数

系统由光源、传输光路，探针样品台和光电测试三部分组成。

根据用户需求，三大部分可以进行定制化开发，以实现不同光谱覆盖范围、不同测试环境和不同测试功能的实现。

1.  光源类型：UV增强氙灯 / 超连续白光激光 /多路波长单色激光

2.  探针台类型：低温/常温/高温、有背栅、光纤导入磁场、真空等；

3.  光信号耦合类型：低温真空台的光斑大小一般为mm 或cm级；光纤导入型，光斑尺寸由光纤芯径决定；

                                  常温测试下，微区光斑约为2um, 在电极引出情况下，最小可达500nm光斑。

4.  测量操作装置：分为手动控制、半自动、全自动三种规格

◆ 实测数据

(1) 测试对象：高电子迁移率半导体（发表于Nanoscale, 2019年)

• 测试手段：室温测试 + 真空探针台(液氮开循环) + B1500 + 500W氙灯+ 单色仪
  
• 测试内容：光电流随光功率的变化情况、光谱响应、响应速度
  

(2)  测试对象：有机半导体异质结构（发表于：Nano Letters,2019年）

• 测试手段：室温测试 + 真空探针台 + 4200 + 超连续白光激光器 + 声光晶体调制器
  
• 测试内容：光谱响应、光响应度随光功率的变化情况
  

(3) 测试对象：二维无机半导体异质结 (发表于 ACS Nano，2020年)

• 测试手段：室温测试 + 真空探针台 + B1500 + 500W氙灯+单色仪
  
• 测试内容：输出转移曲线、光响应度随光功率的变化情况、光响应速度、光谱响应