CL系列中端探針台-手動探針系列
CL 系列探針台可兼容高倍率金相顯微鏡，可微調移動；可升級做射頻，大電流方面的測試和激光修複應用。
特性：
滿足 I-V/C-V，PIV 測試，光電測試等；
***可用於 8 英寸以內樣品測試
同軸絲杠傳動結構，線性移動
兼容高倍率金相顯微鏡，可微調移動
可升級做射頻，大電流方面的測試和激光修複應用。
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詢盤
詢盤
CL系列中端探針台-手動探針系列
CL 系列探針台可兼容高倍率金相顯微鏡，可微調移動；可升級做射頻，大電流方面的測試和激光修複應用。
特性：
滿足 I-V/C-V，PIV 測試，光電測試等；
***可用於 8 英寸以內樣品測試
同軸絲杠傳動結構，線性移動
兼容高倍率金相顯微鏡，可微調移動
可升級做射頻，大電流方面的測試和激光修複應用。
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