台湾 Smart-1 - IV曲线追踪仪

集成电路失效分析流程中，IV曲线的量测往往是破坏分析的第二步（外观检查排在“步”），可见curve量测的重要性。传统的曲线追踪仪多为手动，随着器件的引脚数越来越多，没有办法满足时效的需求，台湾 Advanced 推出的 Smart-1 Auto Curve Tracer 在 BGA 等通讯产品方面满足了客户的需求。

失效分析用IV曲线追踪仪则可以直接记录待测样品的所有数据，与原始数据比对，从而判断元器件具体失效原因，是集成电路领域无损检测环节不可或缺的一环。

• 已封装或未封装集成电路的开路/短路测试；
  
• IV特性分析；
  
• 静态电流测量；
  
• 漏电检测；
  
• 用于集成电路或系统电路的筛选和失效分析。
  

特性：

1. 高分辨率之IV量测范围，可达200mV ~ 200V，（需搭配Keithly 2400），电流测量范围可达1uA ~ 1A，且测试通道可从64-pin逐步扩充至最多4,096 pin，以满足客户多元化之产品测试需求机台主要测试功能，包括：
   

• 开/短路测试（Open/Short Test）；
  
• 曲线追踪分析（IV Curve Analysis）；
  
• Idd量测（Idd Measuring）；
  
• 漏电测试（Powered Leakage Test）。
  
• 可协助客户解决其产品在DC Fail之电性分析，并节省客户上Functiona Tester之借机成本及时间。
  

1. 采用电脑化控制的操作系统，比传统的Curve Tracer更易于量取IV data及产生格式化的report。
   
2. 使用Windows操作系统，易学易懂，而所建立的Device之Pin Assignment可储存在电脑中，未来可重复被使用，比传统的Switching Matrix更便利省时。
   
3. 机台可搭配Probe Station及Emmission Microscope做漏电分析。
   
4. 机台一机多用，本身除了可作产品的失效分析外，还可结合Auto Handler做批量的开/短路测试（Open/Short Test）。