能谱仪 / EDS探测器
Quantax能谱仪 + XFlash®7
采用先进的slim-line技术的SEM和TEM， 大面积SSD纳米微区分析
• 高达 1,000,000 cps的实际分析通量 - 实现无与伦比的分析速度；
• >1.1sr X 射线采集的最大立体角 - 通过优化几何形 状最大化样品的通量，以最有效地采集生成的 X 射 线；
• >2,200 行元素 - 使用最全面的原子数据库量化最复 杂的数据，包括： K、L、M 和 N 线； • XFlash®7为扫描电子显微镜(SEM)、聚焦离子束 （FIB-SEM）和电子探针显微分析仪 (EPMA) 的能量 色散光谱法设定 性能和功能标准；
• XFlash®7检测器系列还提供用于 在 TEM 和 SEM 中对电子透明样 品进行EDS 分析的优化解决方案， 及独的 XFlash®FlatQUAD平叉式 探头；
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