MonoVista CRS3+ 根据用户的应用需求拓展不同的配置，

提供多种材料光学表征方法:

• 保证系统自动控制与高可靠性情况运行
  
• 高灵敏显微拉曼光谱，超低波数拉曼（有效消除空气杂峰），偏振拉曼
  
• 荧光光谱, TCSPC, 荧光寿命成像
  
• 集成 SHG/THG 测试
  
• 变温红外光谱 / 时间分辨光谱 / 暗场光谱 / 异位选区光谱
  
• 耦合外延光路 - 大样品系统，低温，强磁，高温等复杂测试环境
  

I.   科研级拉曼光谱与成像

II.  低波数高灵敏拉曼光谱功能（≤10cm-1）

III. 偏振拉曼光谱的功能

IV. 荧光寿命测试 (TCSPC成像)

V.  二次谐波 (Second Harmonic Generation, SHG/THG)

Monovista CRS3+系统具有最高光谱分辨率达0.7cm-1；提供 488，532, 633, 785nm 等

激光波长低波数拉曼光谱测试能力（≧+/-10cm-1）

DAC 拉曼样品测试在 WSe2 @532nm, 激光 @2400 g/mm，光栅@中心波数 206cm-1 @ 60s 曝光时间

系统优化以后对比：

                                             特别是在测试低波数区，对于弱信号样品，空气拉曼峰对信号干扰很严重，需要去掉。

                                                                                      TCSPC测试基本原理结构

                                                      SHG 拉曼 - 荧光分析

                                     Raman PL and SHG response to strain in monolayer MoSe2.

                             (Nano Lett. 2017, 17, 7539−7543, Peking University, Prof. Liu Kaihui)